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限定条件	收录类别：EI    出处：Optical Design and Testing VI    发表日期：2014    作者：杜春雷    第一作者    作者：杨正    专题：微纳制造与系统集成研究中心    第一作者的第一单位    第一作者单位    通讯作者单位

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	A microspectrometer based on subwavelength metal nanohole array 会议论文 Optical Design and Testing VI, Beijing, China, October 9, 2014 - October 10, 2014 作者:  Cui, Jun;  Xia, Liangping;  Yang, Zheng;  Yin, Lu;  Zheng, Guoxing;  Yin, Shaoyun;  Du, Chunlei Adobe PDF(748Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：81/0  |  提交时间：2018/03/16
	Nanofabrication with sub-50nm features by imprinting-induced cracks 会议论文 Optical Design and Testing VI, Beijing, China, October 9, 2014 - October 10, 2014 作者:  Xia, Liangping;  Zhang, Man;  Yang, Zheng;  Yin, Shaoyun;  Du, Chunlei Adobe PDF(1220Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2018/03/16