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基于类金刚石薄膜的纳米孔测量系统及其制备方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 2014107072034, 申请日期: 2014-11-28,
发明人:  王德强;  冯艳晓;  赵清;  史浩飞;  杜春雷
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一种适用于液态环境的纳米结构筛选层及工艺及检测系统 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 2015100761774, 申请日期: 2015-02-12,
发明人:  冯双龙;  陆文强;  王德强;  杜春雷;  石彪
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Analysis of Ag nanoparticle resist in fabrication of transmission-enhanced subwavelength structures 期刊论文
JOURNAL OF NANOPHOTONICS, 2016, 卷号: 10, 期号: 4
作者:  Kong, Xiangdong;  Fu, Yuegang;  Xia, Liangping;  Zhang, Weiguo;  Zhang, Ziyin;  Dong, Lianhe;  Wang, Deqiang;  Du, Chunlei
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