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Contributed Review: Instruments for measuring Seebeck coefficient of thin film thermoelectric materials: A mini-review 期刊论文
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 2018, 卷号: 89, 期号: 10, 页码: 9
作者:  Wang, Chen;  Chen, Fenggui;  Sun, Kuan;  Chen, Rui;  Li, Meng;  Zhou, Xiaoyuan;  Sun, Yuyang;  Chen, Dongyang;  Wang, Guoyu
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Multi-scale structure patterning by digital-mask projective lithography with an alterable projective scaling system 期刊论文
AIP Advances, 2018, 卷号: 8, 期号: 6
作者:  Liu, Yu-Huan;  Zhao, Yuan-Yuan;  Dong, X.-Z.;  Zheng, Mei-Ling;  Jin, Feng;  Liu, Jie;  Duan, Xuan-Ming;  Zhao, Zhen-Sheng
Adobe PDF(4394Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：181/0  |  提交时间：2019/06/26