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一种适用于复杂样品环境中拉曼痕量检测的芯片及其制备方法和使用方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 2017114827121, 申请日期: 2017-12-29,
发明人:  谢婉谊;  王德强;  何石轩;  方绍熙;  梁丽媛;  王赟姣;  周硕;  殷博华;  周大明;  唐鹏;  石彪
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一种基于微流控的纳米孔分离或检测结构 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 2018104589367, 申请日期: 2018-05-15,
发明人:  方绍熙;  王德强;  谢婉谊;  王赟娇;  何石轩;  唐鹏
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一种基于常压化学气相沉积的大面积单层二硫化钨薄膜的制备方法和产品 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 2018100842154, 申请日期: 2018-01-29,
发明人:  石彪;  王德强;  周彪;  冯双龙;  查克.特里里;  何石轩;  谢婉谊;  方绍熙;  周大明;  梁丽媛;  周硕;  唐鹏;  王赟姣;  殷博华
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