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一种纳米颗粒检测系统及筛选分析方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 2015100513420, 申请日期: 2015-01-30,
发明人:  王德强;  黄成军;  罗军;  赵超;  杜春雷;  石彪
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