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一种基于微流控的纳米孔分离或检测结构 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 2018104589367, 申请日期: 2018-05-15,
发明人:  方绍熙;  王德强;  谢婉谊;  王赟娇;  何石轩;  唐鹏
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