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当前检索式 ((ALL:Frequency measurement))
限定条件 ((出处:6th IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale, IEEE 3M-NANO 2016) AND (作者:2hod01w0-000226))
共8条,第1-8条
崔洪亮 3 张明焜 3 杜春雷 2
颜识涵 2 杨忠波 2 汤明杰 2
王德强 1 周大明 1