KMS Chongqing Institute of Green and Intelligent Technology, CAS
多点实时光刻机光源照度均匀度检测系统设计 | |
赵可为1; 谭艾英2; 尹韶云2; 蔡文涛2; 杨若夫2; 陈建军2; 佟首峰1 | |
2018 | |
摘要 | 提出了一种光刻机照度均匀度多点测量方法,该方法利用紫外增强PIN光电二极管,同时快速测量曝光机照面多点的光强,通过在传统电流一电压放大电路的基础上进行改进,同时使用复合放大的方法,大大提高了曝光机照度均匀度多点测量方法的重复性,使每一测量单点测量重复性控制在0.02mW/cm^2。利用紫外增强PIN光电二极管光刻机光源进行实验,结果表明,多点测量一致性小于0.1mW/cm^2,且检测的照度均匀性符合要求。 |
发表期刊 | 激光与光电子学进展 |
ISSN | 1006-4125 |
卷号 | 055期号:006页码:061203 |
收录类别 | CSCD |
CSCD记录号 | CSCD:6266950 |
语种 | 英语 |